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DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器

產品時間:2024-01-03

簡要描述:

DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器
PILATUS3 R CdTe系列結合了無噪聲單光子計數的優點和在大型碲化鎘(CdTe)傳感器中直接檢測硬X射線的優點。

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PILATUS3 R CdTe混合像素光子計數X射線探測器  

1、特點DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器

 PILATUS3 R CdTe系列結合了無噪聲單光子計數的優點和在大型碲化鎘(CdTe)傳感器中直接檢測硬X射線的優點。
      與閃爍體的檢測器相比,混合像素中的直接檢測產生更銳利的信號和更好的空間分辨率。 CdTe為Mo,Ag和In輻射提供接近100%的吸收效率。結合無噪聲單光子計數,這將實驗室中的X射線檢測帶入了一個新的靈敏度和準確度水平。
      實驗室中的X射線源,尤其是硬X射線的X射線源比同步加速器弱得多,因此需要較長的曝光時間并導致較弱的信號,由于沒有暗電流和讀出噪音,PILATUS3 R探測器超過了實驗室的所有其他技術。單光子計數不含所有其他噪聲源以及CMOS電容檢測器內置的不準確性,例如復位噪聲和非線性電荷響應。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供動力的快速計數電子設備,結合精確的計數率校正提供寬泛的線性范圍,*兼容所有實驗室的X射線源。
       具有挑戰性的實驗室應用(如電荷密度研究和配對分布函數分析)依靠硬輻射和具有出色信噪比的數據,PILATUS3 R CdTe探測器系列提供了高效直接探測和無噪聲單光子計數的*組合,并且是實驗室中這些要求的全能匹配。


2、核心優勢:
DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器?
     - Mo,Ag和In量子效率> 90%
     - 直接檢測清晰的空間分辨率
     - 沒有讀出噪音,也沒有黑暗信號達到高精度
     - 高動態范圍
     - 熒光背景抑制
     - 同步輻射證明的輻射硬度
     - 免維護運行
     - 高可靠性:沒有容易發生故障的密封或復雜,冷卻至室溫以下

 


 3、應用領域
     - 電荷密度分析
     - 配對功能(PDF)分析
     - 高分辨率化學結晶學
     - 高壓/高溫XRD
     - 關鍵尺寸SAXS
     - 計算機斷層掃描(CT)

     - 無損檢測(NDT)

 

 

4、技術參數: 

PILATUS3   R CdTe

300K

300K-W

探測器模塊數量

1 × 3

3 x 1

有效面積:寬×高   [mm²]

83.8 × 106.5

253.7 x 33.5

像素大小 [μm²]

172 x 172

總像素數量

487 × 619

1475 × 195

間隙寬度, 水平/垂直(像素)

*每個模塊之間水平間隙增加1個像素

- */ 17

7* / -

非靈敏區 [ % ]

5.7

1.1

缺陷像素

< 0.1%

幀頻 [Hz]

20

讀出時間 [ms]

7

點擴散函數

1 pixel(FWHM)

計數器深度

20 bits(1,048,576 counts)

功耗 [W]

30

尺寸(WHD)[mm³]

158 x 193 x 262

280 x 62 x 296

重量 [kg]

7.5

7.0

模塊冷卻

水冷

外接觸發電壓

5V TTL

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